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Growth process analysis of a-Si1-xNx:H films probed by X-ray reflectivity

BONTEMPI, Elza;DEPERO, Laura Eleonora;SANGALETTI, Luigi Ermenegildo;
2000-01-01
2000
Ateneo di appartenenza
MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS
sì
2-s2.0-0034301665
WOS:000089360800013
Sì, ma tipo non specificato
Inglese
Internazionale
66
172
176
XRR
5
info:eu-repo/semantics/article
262
Bontempi, Elza; Depero, Laura Eleonora; Sangaletti, Luigi Ermenegildo; F., Giorgis; C. F., Pirri
1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
none
1.1 Articolo in rivista
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