Structural and gas response characterization of nano-size SnO2 films deposited by SILD method

FAGLIA, Guido
2003-01-01

2003
Nessuno
PE3_5 Electronic properties of materials and transport
Sì, ma tipo non specificato
Inglese
Internazionale
96 (3)
602
609
6
info:eu-repo/semantics/article
262
Korotcenkov, G; Macsanov, V; Tolstoy, V; Brinzari, V; Schwank, J; Faglia, Guido
1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
none
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