Influence of Front-End Electronics on Metrological Performance of QCM Systems

DELLO IACONO S.
2024-01-01

2024
MIUR (compresi PRIN FIRB,FISR)
PE7_2 Electrical and electronic engineering: semiconductors, components, systems
Sì, ma tipo non specificato
Inglese
Internazionale
24 (11)
3401
no
Not applicable
7
info:eu-repo/semantics/article
262
Fort, A.; Landi, E.; Moretti, R.; Mugnaini, M.; Liguori, C.; Paciello, V.; DELLO IACONO, S.
1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
none
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