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A combined distance and surface profile measurement system for industrial applications: a European Project

DOCCHIO, Franco;
1994-01-01
1994
UE
PE7_2 Electrical and electronic engineering: semiconductors, components, systems
MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY
sì
2-s2.0-0028462989
WOS:A1994NX30200009
Sì, ma tipo non specificato
Inglese
Internazionale
5
807
815
misure ottiche; interferometria; profilometria; strumentazione elettronica; laser
Ateneo di appartenenza
3
info:eu-repo/semantics/article
262
Docchio, Franco; Umberto, Perini; Hans, Tiziani
1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
none
1.1 Articolo in rivista
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