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A critical comparison between XRD and FIB residual stress measurement techniques in thin films

BRISOTTO, Mariangiola;DEPERO, Laura Eleonora;GELFI, Marcello;
2014-01-01
2014
UE
THIN SOLID FILMS
sì
2-s2.0-84920917366
WOS:000346056100035
Esperti anonimi
Inglese
Internazionale
STAMPA
572
224
231
8
sì
7
info:eu-repo/semantics/article
262
Bemporad, E.; Brisotto, Mariangiola; Depero, Laura Eleonora; Gelfi, Marcello; Korsunsky, A. M.; Lunt, A. J. G.; Sebastiani, M.
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none
1.1 Articolo in rivista
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