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X-ray reflectivity study of the structural properties of SiO2 and SiOF thin films

BONTEMPI, Elza;DEPERO, Laura Eleonora
2001-01-01
2001
Ateneo di appartenenza
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
sì
2-s2.0-0012407741
WOS:000172166800032
Sì, ma tipo non specificato
Inglese
Internazionale
148
F221
F226
6
info:eu-repo/semantics/article
262
Ceriola, G.; Iacona, F.; LA VIA, F; Raineri, V; Bontempi, Elza; Depero, Laura Eleonora
1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
none
1.1 Articolo in rivista
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