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Determination of hot-carrier induced interface state density in polycrystalline silicon thin-film transistors

COLALONGO, Luigi;
1998-01-01
1998
Altre fonti
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
Sì, ma tipo non specificato
Internazionale
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262
Mariucci, L.; Fortunato, G.; Carluccio, R.; Pecora, A.; Giovannini, S.; Massussi, F.; Colalongo, Luigi; Valdinoci, M.
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