Electron and hole mobility in silicon at large operating temperatures. I. Bulk mobility

COLALONGO, Luigi;
2002-01-01

File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
48.pdf

gestori archivio

Tipologia: Full Text
Licenza: DRM non definito
Dimensione 227.82 kB
Formato Adobe PDF
227.82 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11379/159077
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 108
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 92
social impact