ROSSONI, ANGELO
ROSSONI, ANGELO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione
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Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Modeling Stress Effects from Fin Isolation in 7nm FinFET Transistors | 1-gen-2024 | Rossoni, Angelo; Kovacs-Vajna, Zsolt M.; Colalongo, Luigi; Khamankar, Rajesh; Saxena, Sharad; Brozek, Tomasz |