Tailoring nonlinear diffraction in silicon metasurfaces / Tognazzi, Andrea; Okhlopkov, Kirill; Zilli, Attilio; Rocco, Davide; Fagiani, Luca; Mafakheri, Erfan; Bollani, Monica; Finazzi, Marco; Celebrano, Michele; Shcherbakov, Maxim; Fedyanin, Andrey; De Angelis, Costantino. - ELETTRONICO. - 10(2020), pp. 394-396. ((Intervento presentato al convegno Metamaterials 2020 tenutosi a New York (Online) nel 28 Settembre 2020 - 3 Ottobre 2020.
Titolo: | Tailoring nonlinear diffraction in silicon metasurfaces |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2020 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11379/535900 |
ISBN: | 9788894114157 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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