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Sorgenti laser per applicazioni metrologiche e test non distruttivi: rassegna delle esigenze e stato dell'arte

DOCCHIO, Franco;
1995-01-01
1995
Ateneo di appartenenza
Sorgenti Laser per l'Industria
Alberto Sona
PE7_2 Electrical and electronic engineering: semiconductors, components, systems
PE2_10 Quantum optics and quantum information
Italiano
Nazionale
Unico
-
-
CISE
Milano
ITALIA
laser; misure ottiche; strumentazione elettronica
UE
2 Contributo in Volume::2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
2
268
none
Docchio, Franco; Giovanni, Scotti
info:eu-repo/semantics/bookPart
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